X射線衍射儀是目前應用廣泛的研究晶體結構的裝置。X射線衍射儀可分為X射線單晶衍射儀和X射線多晶衍射儀。X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構，織構及應力，精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學，材料生產(chǎn)等領域。X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構成很相似。

　　X射線衍射儀是應用面較廣的儀器設備，是對流體、粉末及塊狀晶體等物質的重要無損分析工具，主要應用于樣品的物相定性分析和定量分析、晶體結構分析以及材料的織構分析、晶粒大小、結晶度測定等。作為物質結構表征的不可少的手段，X射線衍射分析在化學、材料學、物理學、地質、環(huán)境、納米材料、生物等領域均具有重要的應用。運用X射線衍射儀可以獲得分析對象的粉末X射線衍射圖譜，只要樣品是可以制成粉末的固態(tài)樣品或者是能夠加工出小平面的塊狀樣品，都可以用它進行分析測試。

　　X射線衍射儀對樣品有哪些要求：

　　1、粉末樣品要求磨成320目的粒度，大概40微米。如果粒度粗大，那么就會有較低的分辨率，不是太好的峰形以及較低的衍射強度。要對如樣品是否易燃，易潮解，易腐蝕、有毒、易揮發(fā)這些物理化學性質加以了解。

　　2、要求粉末樣品在3克左右，即使太少也需5毫克。

　　3、樣品能夠使有機、無機材料、金屬、非金屬粉末。

　　4、要求將如塊狀、板狀、圓拄狀金屬樣品磨成一個平面，面積不能比10mm×10mm小，若面積偏小，則可以將幾塊粘貼在一起。

　　5、對于片狀、圓拄狀樣品來說，擇優(yōu)取向比較嚴重，有著比較異常的衍射強度。所以要求在測試時，要對響應的方向平面進行合理的選擇。

　　6、對于殘余奧氏體的測量以及金屬樣品的微觀應力（晶格畸變）的測量，要求樣品不可以簡單粗糙，要求制備成金相樣品，并且進行電解拋光或者普通拋光，將表面應變層消除。