納米壓痕測(cè)試儀對(duì)測(cè)試樣品的要求：

1. 樣品要求：上下表面平行拋光，直徑不超過30mm，高度不超過20mm，如果高度超過10mm，直徑需保證是30mm左右，如果直徑小于10mm，那么高度建議5mm以下，利于樣品測(cè)試過程中的穩(wěn)固；如果是鑲的樣品，盡量加工成直徑31.5mm，要不然容易打偏；

2. 特別注意：試樣厚度至少大于壓入深度h的10倍以上，壓入深度h至少是粗糙度Ra的20倍；壓入深度小于100nm數(shù)據(jù)可靠度不高；壓入深度一般2-3微米，深度再大沒有太大意義；對(duì)于表面比較粗糙的樣品，測(cè)試結(jié)果比較離散，建議測(cè)試點(diǎn)數(shù)不低于10個(gè)；樣品表面平整，不得有油污、顆粒物等污染物；提供樣品的泊松比。

本公司提供的納米壓痕測(cè)試儀Hit 300是一款優(yōu)質(zhì)且價(jià)格非常實(shí)惠的納米硬度測(cè)試儀，專為每位用戶和各種類型的環(huán)境打造。直觀、自動(dòng)化的Hit 300可讓您每小時(shí)進(jìn)行600次測(cè)量，甚至在您走開的時(shí)候。主動(dòng)阻尼減震可確保在所有環(huán)境中的準(zhǔn)確性。雙激光瞄準(zhǔn)系統(tǒng)在對(duì)準(zhǔn)樣品時(shí)可提供小于1mm的精度。設(shè)計(jì)時(shí)考慮了功能性：安裝只需15分鐘，培訓(xùn)到獲得第一個(gè)結(jié)果只需1小時(shí)。